{"id":3304,"date":"2023-08-18T12:31:01","date_gmt":"2023-08-18T09:31:01","guid":{"rendered":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/?page_id=3304"},"modified":"2024-02-16T08:56:00","modified_gmt":"2024-02-16T06:56:00","slug":"standardien-ja-patenttien-haku","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/","title":{"rendered":"Standardien ja patenttien haku"},"content":{"rendered":"\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Standardit<\/h2>\n\n\n\n<p>Standardit ovat julkaisuja, joissa m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n kohteen, esimerkiksi tuote tai palvelu, ominaisuudet ja vaatimukset tai, erityisesti j\u00e4rjestelmi\u00e4 tai menetelmi\u00e4 standardoitaessa, niiden toimintatapa. My\u00f6s luonnontieteellisi\u00e4 suureita ja yksik\u00f6it\u00e4 m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n standardeissa. Standardit ovat m\u00e4\u00e4r\u00e4muotoisia ja tiiviit\u00e4 kuvauksia kohteestaan.<\/p>\n\n\n\n<p><br><strong>Standardien rakenne on seuraava:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>johdanto<\/li>\n\n\n\n<li>sovellusala<\/li>\n\n\n\n<li>liittyv\u00e4t standardit<\/li>\n\n\n\n<li>termit ja m\u00e4\u00e4ritelm\u00e4t<\/li>\n\n\n\n<li>(kohteen) vaatimukset<\/li>\n\n\n\n<li>ohjeita<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<p>Standardointi voidaan tehd\u00e4 maa- tai esimerkiksi maanosakohtaisesti sek\u00e4 kansainv\u00e4lisesti. K\u00e4yt\u00e4nn\u00f6ss\u00e4 kuitenkin esim. Suomessa voimassa olevista SFS-standardeista 97% on kansainv\u00e4list\u00e4 alkuper\u00e4\u00e4. Eurooppalaisen standardointiorganisaation CEN:in j\u00e4senmaat (my\u00f6s Suomi) ovat velvollisia vahvistamaan kaikki eurooppalaiset EN-standardit. EN-standardeista 30% perustuu kansainv\u00e4lisiin ISO- tai muihin standardeihin. (<a href=\"https:\/\/sfs.fi\/osallistu-ja-vaikuta\/standardointi-suomessa-ja-maailmalla\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">SFS\/ Stadardointi Suomessa ja maailmalla<\/a>) (linkki aukeaa uuteen ikkunaan).<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Siksi tietoja standardeista voi hakea eri paikoista<\/strong>, mutta tiedot ovat osittain my\u00f6s p\u00e4\u00e4llekk\u00e4isi\u00e4. Alla on esitetty t\u00e4rkeimpi\u00e4 standardien luetteloita, joissa voi selata standardeja aiheittain tai tehd\u00e4 yksinkertaisia hakuja.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Kotimaiset standardit<\/h3>\n\n\n\n<h4 class=\"wp-block-heading\">SFS Online <\/h4>\n\n\n\n<p>SFS: Online sis\u00e4lt\u00e4\u00e4 tietoja SFS-, ISO- ja IEC-standardeista sek\u00e4 muutamista muista ulkomaisista standardeista: ASTM, IEEE, SAE ja ASME. Tietokannan koko sis\u00e4lt\u00f6 on haettavissa ja selattavissa, mutta standardin kokotekstin saa auki vain yliopistolle tilatuista standardeista. Kaikkiaan SFS-standardien aihealueita on 99, UEFilla on tilaus niist\u00e4 22:een.<\/p>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/primo.uef.fi\/permalink\/358FIN_UOEF\/mhajq\/alma9915113838605966\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">SFS Online<\/a> (linkki aukeaa uuteen ikkunaan)<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Hakuohjeet:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>voi tehda haun yhdell\u00e4 tai useammalla sanalla<\/li>\n\n\n\n<li>sanojen v\u00e4lill\u00e4 on AND, sit\u00e4 ei kirjoiteta n\u00e4kyviin<\/li>\n\n\n\n<li>katkaisumerkki * toimii<\/li>\n\n\n\n<li>lainausmerkkej\u00e4 eli fraasihakua ei voi k\u00e4ytt\u00e4\u00e4<\/li>\n\n\n\n<li>suomeksi hakien l\u00f6ytyy my\u00f6s englanninkielisi\u00e4 standardeja<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-full\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1248\" height=\"641\" src=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png\" alt=\"Kuvakaappaus SFS Online hakusivulta. Hakulause kirjoitetaan oikealle kohtaan 'Standardi- ja julkaisuhaku\u2019. Hakulause: kaasumai* polttoain*. Tuloksia vasemmalla 9 kpl. Huomautus: Oletusarvoisesti n\u00e4kyv\u00e4t vain tilatut standardit. Yl\u00e4valikossa kohdan SFS tarkennus: selaus aihealueittain t\u00e4\u00e4lt\u00e4.\" class=\"wp-image-4104\" srcset=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png 1248w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline-300x154.png 300w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline-1024x526.png 1024w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline-768x394.png 768w\" sizes=\"auto, (max-width: 1248px) 100vw, 1248px\" \/><figcaption class=\"wp-element-caption\"><em>Haku SFS Onlinesta: kaasumai* polttoain*.<\/em><\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n<h4 class=\"wp-block-heading\">PSK standardit<\/h4>\n\n\n\n<p>PSK standardit ovat kotimaisten teollisuusyritysten yhteisty\u00f6n\u00e4 laatimia standardeja. Mukana standardien kehitt\u00e4misess\u00e4 on yli 250 yrityst\u00e4. Standardit ovat verkossa vain j\u00e4senyritysten k\u00e4yt\u00f6ss\u00e4, mutta muut voivat saada standardeja painettuina.<\/p>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/psk-standardisointi.fi\/standardit\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">PSK-standardien selaus<\/a> (linkki aukeaa uuteen ikkunaan)<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Eurooppalaisia standardeja <\/h3>\n\n\n\n<h4 class=\"wp-block-heading\">CEN ja CENELEC<\/h4>\n\n\n\n<p>CEN eli European Committee for Standardization on riipumaton j\u00e4rjest\u00f6, jonka teht\u00e4v\u00e4 on edist\u00e4\u00e4 eurooppalaista standardisointia. CEN:iin kuuluvat j\u00e4senin\u00e4 l\u00e4hes kaikkien Euroopan maiden standardisointij\u00e4rjest\u00f6t. <br>CEN:in vastuulle kuuluvat kaikkien alojen standardit lukuunottamatta elektoniikkaa, josta vastaa CENELEC,  ja tietotekniikkaa, josta vastaa <a href=\"https:\/\/www.etsi.org\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">ETSI<\/a> (linkki aukeaa uuteen ikkunaan).<\/p>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/standards.cencenelec.eu\/dyn\/www\/f?p=CEN:105::RESET::::\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">CEN- ja CENELEC-standardien haku<\/a> (linkki aukeaa uuteen ikkunaan). Haussa on mahdollista tarkastella my\u00f6s valmisteluvaiheessa olevia standardeja.<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Hakuohjeet:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>sanojen v\u00e4lill\u00e4 on  OR-operaattori automaattisesti<\/li>\n\n\n\n<li>hakusanan voi katkaista, mutta katkaisumerkki\u00e4 ei k\u00e4ytet\u00e4<\/li>\n\n\n\n<li>lainausmerkkej\u00e4 eli fraasia voi k\u00e4ytt\u00e4\u00e4<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Kansainv\u00e4lisi\u00e4 standardeja<\/h3>\n\n\n\n<h4 class=\"wp-block-heading\">ISO<br><\/h4>\n\n\n\n<p>ISO on tunnetuin kansainv\u00e4linen standardoimisj\u00e4rjest\u00f6, jonka standardeja k\u00e4ytet\u00e4\u00e4n laajasti. ISO kattaa kaikki alat lukuunottamatta s\u00e4hk\u00f6tekniikkaa, josta huolehtii <a href=\"https:\/\/iec.ch\/homepage\">IEC<\/a>. ISO:n j\u00e4seni\u00e4 ovat kansalliset standardoimisj\u00e4rjest\u00f6t, kuten SFS Suomesta.<\/p>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/www.iso.org\/search.html\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">ISO-standardien haku (linkki aukeaa uuteen ikkunaan).<\/a><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Hakuohje:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>sanojen v\u00e4lill\u00e4 on automaattisesti AND<\/li>\n\n\n\n<li>hakusanan voi katkaista, mutta katkaisumerkki\u00e4 ei k\u00e4ytet\u00e4; hakutulos muuttuukin sit\u00e4 mukaa kun kirjoitat hakusanaa<\/li>\n\n\n\n<li>lainausmerkkej\u00e4 eli fraasia voi k\u00e4ytt\u00e4\u00e4<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"416\" src=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_iso-1024x416.png\" alt=\"Kuvakaappaus ISO-standardien hausta. Hakulause on: medical devices quali, tuloksia 62 kpl. Seliteteksti: Hakutulos n\u00e4yt\u00f6ll\u00e4 muuttuu sit\u00e4 mukaa kun kirjoitat hakusanoja.\nJos t\u00e4ydenn\u00e4t viimeisen hakusanan quality, tuloksia on 52 kpl. \nJos jatkat sanaa qualify, tuloksia on 12 kpl.\" class=\"wp-image-3359\" srcset=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_iso-1024x416.png 1024w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_iso-300x122.png 300w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_iso-768x312.png 768w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_iso.png 1097w\" sizes=\"auto, (max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h4 class=\"wp-block-heading\">IEEE:n standardit<\/h4>\n\n\n\n<p>Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), joka on kansainv\u00e4linen tekniikan alan j\u00e4rjest\u00f6, julkaisee omien lehtien ja tietokannan lis\u00e4ksi my\u00f6s standardeja. Standardeja voit hakea IEEE Xploresta (katso hakuohjeet Artikkelien haku -sivulta). Tee haku ja rajaa tulokset vain standardeihin.<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-full is-resized\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1063\" height=\"463\" src=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_ieee_standardi.png\" alt=\"Kuvakaappaus IEEE Xplore hakutuloksista. Hakulause Optic* AND sensor*, haettuna otsikoista. Tulokset 6063. Tulosm\u00e4\u00e4r\u00e4 on esitetty my\u00f6s aineistotyypeitt\u00e4in, standardeja 5 kpl. N\u00e4m\u00e4 saa n\u00e4kyviin klikkamalla valintaruutua.\" class=\"wp-image-3338\" srcset=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_ieee_standardi.png 1063w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_ieee_standardi-300x131.png 300w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_ieee_standardi-1024x446.png 1024w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_ieee_standardi-768x335.png 768w\" sizes=\"auto, (max-width: 1063px) 100vw, 1063px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Standardit kirjaston kokoelmissa<\/h3>\n\n\n\n<p>Yksitt\u00e4isi\u00e4 standardeja on kirjaston kokoelmissa vain v\u00e4h\u00e4n. SFS-standardit l\u00f6ytyv\u00e4t SFS Online -palvelusta, niit\u00e4 ei ole lueteltu erillisin\u00e4 UEF-Primoon.<\/p>\n\n\n\n<p><\/p>\n\n\n\n<h2 class=\"wp-block-heading\">Patentit<\/h2>\n\n\n\n<p>Patenteilla suojataan keksint\u00f6j\u00e4, joita voidaan hy\u00f6dynt\u00e4\u00e4 kaupallisesti. Ne ovat k\u00e4yt\u00e4nn\u00f6llisi\u00e4 ratkaisuja johonkin tekniseen ongelmaan ja lis\u00e4ksi niist\u00e4 voidaan saada tietoja t\u00e4m\u00e4nhetkisest\u00e4 tiet\u00e4myksest\u00e4 aiheesta sek\u00e4 k\u00e4yt\u00e4nn\u00f6n esimerkkej\u00e4.<\/p>\n\n\n\n<p>Patentilla voidaan suojata esimerkiksi laite, tuote, tuotantomenetelm\u00e4 tai aine, mutta ei mm. teoriaa,  matemaattista tai diagnostista menetelm\u00e4\u00e4, tietokoneohjelmaa tai vaikkapa kasvilajiketta.<\/p>\n\n\n\n<p>Patentti sis\u00e4lt\u00e4\u00e4 mm. tunnistetiedot: otsikko, hakija (=organisaatio), keksij\u00e4 (=henkil\u00f6); selitystekstin sek\u00e4 vaatimukset.<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Patentteja voidaan hakea erityisest\u00e4 tietokannasta<\/strong> (Espacenet) <strong>tai hakutulosta voidaan rajata vain patentteihin tietyiss\u00e4 tietokannoissa<\/strong> (esim. SciFinder ja Scopus). Osassa patentteja on suora p\u00e4\u00e4sy alkuper\u00e4iseen patenttiin, osasta l\u00f6ytyy vain tunnistetiedot.<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Espacenet<\/h3>\n\n\n\n<p>Espacenetin k\u00e4ytt\u00f6liittym\u00e4 on suomenkielinen, mutta haku tehd\u00e4\u00e4n kuitenkin englanniksi. Tietokanta sis\u00e4lt\u00e4\u00e4 tiedot n. 140 miljoonasta patentista eri puolilta maailmaa.<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Hakuohjeet:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\">\n<li>hakusanojen v\u00e4lill\u00e4 on automaattisesti AND tekstikentiss\u00e4 ja OR numerokentiss\u00e4 (esim. p\u00e4iv\u00e4m\u00e4\u00e4r\u00e4)<\/li>\n\n\n\n<li>operaattoreita AND, OR ja NOT voi k\u00e4ytt\u00e4\u00e4<\/li>\n\n\n\n<li>operaattoreiden suoritusj\u00e4rjestys on vasemmalta oikealle; sen voi muuttaa suluilla<\/li>\n\n\n\n<li>sanankatkaisu *-merkill\u00e4 toimii, mutta vain sanan lopusta voi katkaista; vain yksi *-merkki \/ hakulause on sallittu<\/li>\n\n\n\n<li>lainausmerkkej\u00e4 eli fraaseja voi k\u00e4ytt\u00e4\u00e4, sanankatkaisu toimii my\u00f6s fraasin lopussa<\/li>\n<\/ul>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-large\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"402\" src=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_espacenet-1024x402.png\" alt=\"Kuvakaappaus Espacenet-tietokannasta. Hakulause: &quot;light guide*&quot; OR lightguide* AND distribut*. Selitetekstit: Hakulauseen voi kirjoittaa yhdelle riville operaattoreiden avulla. Tarkennetu haku mahdollistaa hakukenttien valinnan.\" class=\"wp-image-3350\" srcset=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_espacenet-1024x402.png 1024w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_espacenet-300x118.png 300w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_espacenet-768x302.png 768w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_espacenet.png 1178w\" sizes=\"auto, (max-width: 1024px) 100vw, 1024px\" \/><figcaption class=\"wp-element-caption\">Hakulause: &#8221;light guide*&#8221; OR lightguide* AND distribut*<\/figcaption><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">SciFinder<\/h3>\n\n\n\n<p>SciFinder on erityisesti kemian alan kirjallisuusviitetietokanta, joka runsaasti tietoja my\u00f6s patenteista kemian ja muiden luonnontieteiden sek\u00e4 tekniikan alalta.<\/p>\n\n\n\n<p>Katso SciFinderin hakuohje <a href=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-kemia\/artikkelien-hakeminen\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">Kemian tiedonhaun sivuilta<\/a> (linkki aukeaa uuteen ikkunaan).<\/p>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Scopus<\/h3>\n\n\n\n<p>Scopuksessa on patenttitietoja nelj\u00e4lt\u00e4 alueelliselta organisaatiolta USA:sta, Japanista, Euroopasta, Iso-Britanniasta sek\u00e4 yhdest\u00e4 kansainv\u00e4lisest\u00e4 organisaatiosta.<\/p>\n\n\n\n<p>Scopuksessa tehd\u00e4\u00e4n haku normaalisti Search Documents -v\u00e4lilehdell\u00e4. Katso hakuohje Artikkelien haku -luvusta. Hakutulokseen voi sen j\u00e4lkeen valita vain patentit:<\/p>\n\n\n\n<figure class=\"wp-block-image size-full\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"971\" height=\"481\" src=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_scopus_patentti.png\" alt=\"Kuvakaappaus Scopus tietokannasta. Hakulause: &quot;composite materials&quot; AND resin AND adhesive. Hakutulosten yl\u00e4reunassa on valikko, jossa vaihtoehdot: Documents, Patents, Secondary documents, Research data. Valittu Patents, joita 198 217 kpl.\" class=\"wp-image-3344\" srcset=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_scopus_patentti.png 971w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_scopus_patentti-300x149.png 300w, https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2023\/08\/TEK_scopus_patentti-768x380.png 768w\" sizes=\"auto, (max-width: 971px) 100vw, 971px\" \/><\/figure>\n\n\n\n<h3 class=\"wp-block-heading\">Google Patents<\/h3>\n\n\n\n<p>My\u00f6s Googlella on patenttien hakemiseen erikoistunut sivu:<\/p>\n\n\n\n<p><a href=\"https:\/\/patents.google.com\/\" target=\"_blank\" rel=\"noreferrer noopener\">Google Patents (linkki aukeaa uuteen ikkunaan)<\/a>.<\/p>\n\n\n\n<p class=\"has-text-align-right\">Seuraava sivu: <a href=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/tekoaly-tiedonhaun-apuna\/\">Teko\u00e4ly tiedonhaun apuna<\/a>.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Standardit Standardit ovat julkaisuja, joissa m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n kohteen, esimerkiksi tuote tai palvelu, ominaisuudet ja vaatimukset tai, erityisesti j\u00e4rjestelmi\u00e4 tai menetelmi\u00e4 standardoitaessa, niiden toimintatapa. My\u00f6s luonnontieteellisi\u00e4 suureita ja yksik\u00f6it\u00e4 m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n standardeissa. Standardit ovat m\u00e4\u00e4r\u00e4muotoisia ja tiiviit\u00e4 kuvauksia kohteestaan. Standardien rakenne on seuraava: Standardointi voidaan tehd\u00e4 maa- tai esimerkiksi maanosakohtaisesti sek\u00e4 kansainv\u00e4lisesti. K\u00e4yt\u00e4nn\u00f6ss\u00e4 kuitenkin esim. Suomessa voimassa olevista [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":127,"featured_media":0,"parent":949,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-3304","page","type-page","status-publish","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"<!-- This site is optimized with the Yoast SEO plugin v27.3 - https:\/\/yoast.com\/product\/yoast-seo-wordpress\/ -->\n<title>Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fi_FI\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Standardit Standardit ovat julkaisuja, joissa m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n kohteen, esimerkiksi tuote tai palvelu, ominaisuudet ja vaatimukset tai, erityisesti j\u00e4rjestelmi\u00e4 tai menetelmi\u00e4 standardoitaessa, niiden toimintatapa. My\u00f6s luonnontieteellisi\u00e4 suureita ja yksik\u00f6it\u00e4 m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n standardeissa. Standardit ovat m\u00e4\u00e4r\u00e4muotoisia ja tiiviit\u00e4 kuvauksia kohteestaan. Standardien rakenne on seuraava: Standardointi voidaan tehd\u00e4 maa- tai esimerkiksi maanosakohtaisesti sek\u00e4 kansainv\u00e4lisesti. K\u00e4yt\u00e4nn\u00f6ss\u00e4 kuitenkin esim. Suomessa voimassa olevista [&hellip;]\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku\" \/>\n<meta property=\"article:modified_time\" content=\"2024-02-16T06:56:00+00:00\" \/>\n<meta property=\"og:image\" content=\"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<meta name=\"twitter:label1\" content=\"Arvioitu lukuaika\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data1\" content=\"6 minuuttia\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\\\/\\\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/\",\"url\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/\",\"name\":\"Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/#website\"},\"primaryImageOfPage\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/#primaryimage\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/wp-content\\\/uploads\\\/sites\\\/49\\\/2024\\\/01\\\/TEK_sfsonline.png\",\"datePublished\":\"2023-08-18T09:31:01+00:00\",\"dateModified\":\"2024-02-16T06:56:00+00:00\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"fi\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/\"]}]},{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"fi\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/#primaryimage\",\"url\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/wp-content\\\/uploads\\\/sites\\\/49\\\/2024\\\/01\\\/TEK_sfsonline.png\",\"contentUrl\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/wp-content\\\/uploads\\\/sites\\\/49\\\/2024\\\/01\\\/TEK_sfsonline.png\",\"width\":1248,\"height\":641},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/standardien-ja-patenttien-haku\\\/#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Home\",\"item\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Hakukoneet\",\"item\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/hakukoneet\\\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":3,\"name\":\"Standardien ja patenttien haku\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/#website\",\"url\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/\",\"name\":\"Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku\",\"description\":\"\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\\\/\\\/blogs.uef.fi\\\/tiedonhaku-fysiikka\\\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"fi\"}]}<\/script>\n<!-- \/ Yoast SEO plugin. -->","yoast_head_json":{"title":"Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/","og_locale":"fi_FI","og_type":"article","og_title":"Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku","og_description":"Standardit Standardit ovat julkaisuja, joissa m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n kohteen, esimerkiksi tuote tai palvelu, ominaisuudet ja vaatimukset tai, erityisesti j\u00e4rjestelmi\u00e4 tai menetelmi\u00e4 standardoitaessa, niiden toimintatapa. My\u00f6s luonnontieteellisi\u00e4 suureita ja yksik\u00f6it\u00e4 m\u00e4\u00e4ritell\u00e4\u00e4n standardeissa. Standardit ovat m\u00e4\u00e4r\u00e4muotoisia ja tiiviit\u00e4 kuvauksia kohteestaan. Standardien rakenne on seuraava: Standardointi voidaan tehd\u00e4 maa- tai esimerkiksi maanosakohtaisesti sek\u00e4 kansainv\u00e4lisesti. K\u00e4yt\u00e4nn\u00f6ss\u00e4 kuitenkin esim. Suomessa voimassa olevista [&hellip;]","og_url":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/","og_site_name":"Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku","article_modified_time":"2024-02-16T06:56:00+00:00","og_image":[{"url":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png","type":"","width":"","height":""}],"twitter_card":"summary_large_image","twitter_misc":{"Arvioitu lukuaika":"6 minuuttia"},"schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/","url":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/","name":"Standardien ja patenttien haku - Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku","isPartOf":{"@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/#website"},"primaryImageOfPage":{"@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/#primaryimage"},"image":{"@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png","datePublished":"2023-08-18T09:31:01+00:00","dateModified":"2024-02-16T06:56:00+00:00","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/#breadcrumb"},"inLanguage":"fi","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/"]}]},{"@type":"ImageObject","inLanguage":"fi","@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/#primaryimage","url":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png","contentUrl":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-content\/uploads\/sites\/49\/2024\/01\/TEK_sfsonline.png","width":1248,"height":641},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/standardien-ja-patenttien-haku\/#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Home","item":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Hakukoneet","item":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/hakukoneet\/"},{"@type":"ListItem","position":3,"name":"Standardien ja patenttien haku"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/#website","url":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/","name":"Fysiikan ja tekniikan tiedonhaku","description":"","potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"fi"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3304","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/users\/127"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=3304"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3304\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":4148,"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/3304\/revisions\/4148"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/949"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/blogs.uef.fi\/tiedonhaku-fysiikka\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3304"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}